{"id":7,"date":"2015-11-09T14:49:27","date_gmt":"2015-11-09T14:49:27","guid":{"rendered":"http:\/\/pages.cnpem.br\/afmworkshop\/?page_id=7"},"modified":"2024-04-01T17:00:33","modified_gmt":"2024-04-01T20:00:33","slug":"microscopia-varredura-por-sonda","status":"publish","type":"page","link":"http:\/\/pages.cnpem.br\/afmworkshop\/microscopia-varredura-por-sonda\/","title":{"rendered":"Microscopia de varredura por sonda"},"content":{"rendered":"<div class=\"wpb-content-wrapper\"><p>[vc_row][vc_column][vc_column_text]<\/p>\n<h3><strong>A microscopia de varredura por sonda como ferramenta da nanotecnologia<\/strong><\/h3>\n<p>Nos microsc\u00f3pios convencionais, o observador utiliza f\u00f3tons ou el\u00e9trons para ver um determinado objeto. E as suas possibilidades de observar amostras pequenas ficam limitadas pela difra\u00e7\u00e3o da radia\u00e7\u00e3o, que ocorre sempre que as dimens\u00f5es do objeto examinado s\u00e3o da mesma ordem de grandeza da metade do comprimento de onda utilizado. Al\u00e9m disso, efeitos de aberra\u00e7\u00e3o comprometem a qualidade das imagens obtidas com grandes aumentos, mesmo quando o limite de difra\u00e7\u00e3o n\u00e3o \u00e9 atingido. Por isso, os microsc\u00f3pios \u00f3pticos convencionais n\u00e3o permitem a observa\u00e7\u00e3o de objetos menores que<strong>\u00a0\u00bd micr\u00f4metro<\/strong>.<\/p>\n<p>As t\u00e9cnicas de Atomic Force Microscopy\/Microscopia de For\u00e7a At\u00f4mica (AFM) n\u00e3o dependem da intera\u00e7\u00e3o da mat\u00e9ria com a luz ou com os el\u00e9trons. O\u00a0observador utiliza uma pequena sonda de\u00a0extremidade muito afiada e que percorre a superf\u00edcie da amostra a uma dist\u00e2ncia m\u00ednima. A sonda pode estar em contato com a amostra, mas, na maioria dos casos, est\u00e1 a uma dist\u00e2ncia muito pequena, da ordem de poucos nan\u00f4metros. Nessas condi\u00e7\u00f5es, as for\u00e7as resultantes das intera\u00e7\u00f5es da sonda com os \u00e1tomos ou mol\u00e9culas da superf\u00edcie, especialmente as intera\u00e7\u00f5es intermoleculares de van der Waals, s\u00e3o significativas e podem ser medidas.<\/p>\n<p>A t\u00e9cnica de\u00a0AFM transformou-se rapidamente em uma vasta plataforma de novas microscopias, que produzem uma grande quantidade de informa\u00e7\u00f5es sobre as propriedades f\u00edsicas e f\u00edsico-qu\u00edmicas de superf\u00edcies. Hoje, um microsc\u00f3pio de varredura por sonda, complementado com diferentes acess\u00f3rios, permite obter\u00a0informa\u00e7\u00f5es sobre as propriedades el\u00e9tricas (potencial, carga, condutividade, capacit\u00e2ncia), magn\u00e9ticas, mec\u00e2nicas (viscoelasticidade, ades\u00e3o, dureza, coeficientes de atrito), t\u00e9rmicas (condutividade, transi\u00e7\u00f5es) e qu\u00edmicas (intera\u00e7\u00f5es) de superf\u00edcies.\u00a0Tamb\u00e9m s\u00e3o realizados experimentos em que se medem v\u00e1rios pares de par\u00e2metros, combinando for\u00e7a \/vs\/. dist\u00e2ncia com for\u00e7a \/vs\/. voltagem, amplitude\/vs\/. dist\u00e2ncia, fase \/vs\/. dist\u00e2ncia etc.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\"><strong>Refer\u00eancia<\/strong>: <a href=\"http:\/\/dx.doi.org\/10.21800\/S0009-67252013000300013\" target=\"_blank\" rel=\"noopener noreferrer\">http:\/\/dx.doi.org\/10.21800\/S0009-67252013000300013<\/a><\/p>\n<p>[\/vc_column_text][\/vc_column][\/vc_row]<\/p>\n<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>[vc_row][vc_column][vc_column_text] A microscopia de varredura por sonda como ferramenta da nanotecnologia Nos microsc\u00f3pios convencionais, o observador utiliza f\u00f3tons ou el\u00e9trons para ver um determinado objeto. E as suas possibilidades de observar amostras pequenas ficam limitadas pela difra\u00e7\u00e3o da radia\u00e7\u00e3o, que ocorre sempre que as dimens\u00f5es do objeto examinado s\u00e3o da mesma ordem de grandeza da&hellip;<\/p>\n","protected":false},"author":10,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"footnotes":""},"class_list":["post-7","page","type-page","status-publish","hentry","description-off"],"_links":{"self":[{"href":"http:\/\/pages.cnpem.br\/afmworkshop\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/7","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"http:\/\/pages.cnpem.br\/afmworkshop\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"http:\/\/pages.cnpem.br\/afmworkshop\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"http:\/\/pages.cnpem.br\/afmworkshop\/wp-json\/wp\/v2\/users\/10"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"http:\/\/pages.cnpem.br\/afmworkshop\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=7"}],"version-history":[{"count":0,"href":"http:\/\/pages.cnpem.br\/afmworkshop\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/7\/revisions"}],"wp:attachment":[{"href":"http:\/\/pages.cnpem.br\/afmworkshop\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=7"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}