Microscopia eletrônica para compreensão de fenômenos em nanoescala

Utilização de microscopia eletrônica com suas técnicas correlatas (Imagem, Difração, espectroscopia por perda de energia do elétron (EELS) e por energia dispersiva (EDS), etc) para compreensão de fenômenos físico-químicos em escala nanométrica.

Principais áreas de atuação: Materiais de engenharia e física da matéria condensada

Exemplos de aplicação

  • Compreensão das propriedades de materiais em escala nano;
  • Transformação de fases em metais e suas ligas, vidros, cerâmicas e semicondutores;
  • Descrição de fenômenos de nucleação e crescimento em materiais.
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Nome: Jefferson Bettini
E-mail: jefferson.bettini@lnnano.cnpem.br
CV Lattes: http://lattes.cnpq.br/3814895410100282

Microscopia de varredura por sondas para análises de nanoestruturas na superfície

Análises de micro/nanoestruturas por microscopia de força atômica (AFM). Nestas técnicas o observador utiliza uma pequena sonda com extremidade muito afiada que percorre a superfície da amostra, permitindo que se obtenha informações sobre a rugosidade e outras propriedades, como elétricas (potencial, carga, condutividade, capacitância), magnéticas, mecânicas (viscoelasticidade, adesão, dureza, coeficientes de atrito) e químicas (infra-vermelho) de superfícies.

Principais áreas de atuação: Materiais de engenharia, química, física, cosméticos e materiais biológicos.

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Nome: Carlos A. R. Costa
E-mail: carlos.costa@lnnano.cnpem.br
CV Lattes: http://lattes.cnpq.br/2833950143696339