II LNNano AFM Workshop

Litografia realizada no LCS/LNNano

Litografia realizada no LCS/LNNano

O Laboratório de Ciência de Superfícies (LCS) do Laboratório Nacional de Nanotecnologia (LNNano) realiza dia 5 de dezembro a terceira edição do AFM Workshop para convidados.

A segunda edição do evento foi realizada nos dias 5, 6 e 7 de julho de 2017, aberta a estudantes de pós-graduação, pesquisadores, técnicos e profissionais envolvidos em pesquisa, ensino e inovação. Veja galeria de fotos do evento.

O Workshop visa promover uma introdução às técnicas de microscopias de varredura por sonda, suas diferentes aplicações, assim como o estado da arte da tecnologia nesta área. Os cursos serão ministrados por pesquisadores e especialistas do Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM) e por profissionais de empresas fabricantes de instrumentos.


Tópicos básicos

  • Detalhamento das técnicas de microscopia de varredura por sonda, comparação entre as mesmas e técnicas relacionadas;
  • preparação e manipulação de amostras;
  • instrumentação.

Tópicos específicos

  • Topografia – contato, contato intermitente, não-contato (limites práticos na operação entre não-contato e contato intermitente);
  • propriedades elétricas – potencial, carga, condutividade, capacitância (EFM, KPFM, PFM, SCM, Spreading resistance …);
  • propriedades mecânicas (viscoelasticidade, adesão, dureza, nanotribologia);
  • propriedades ópticas (SNOM, AFM-IR);
  • espectroscopias (Força X distância, Amplitude X distância, Fase X distância …).

Tópico complementar

  • Espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS)

Práticas

  • Preparação de amostras – sólidas, pós, dispersas em líquidos;
  • Experimentos básicos de AFM – topografia, amplitude (erro), contraste de fase;
  • Experimentos em modos elétricos – EFM, KPFM, PFM, SCM;
  • Experimentos em modo magnético – MFM;
  • Experimentos em meio líquido;
  • Experimentos em ultra-alto-vácuo – AFM/STM;
  • Experimentos de espectroscopia e imageamento de absorção/reflexão no infravermelho – AFM-IR;
  • Experimentos em modo óptico de campo próximo – SNOM – utilizando a linha de infravermelho do Síncrotron.
  • Introdução à técnica de espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS)