Sobre o Workshop

A quarta edição do SEM-FIB Workshop acontece de 19 a 23 de outubro de 2026, e visa fornecer uma introdução teórico-prática em microscopia eletrônica de varredura (SEM/MEV). 

A iniciativa é do Laboratório Nacional de Nanotecnologia (LNNano) que integra o Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM), organização social qualificada pelo Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (MCTI)

Objetivo e público-alvo

O evento busca atuar, principalmente, na capacitação dos potenciais usuários das instalações abertas de microscopia eletrônica do LNNano. 

Com aulas expositivas em auditório e oficinas demonstrativas nos equipamentos do LNNano, espera-se fornecer aos participantes uma base fundamental para o entendimento das técnicas e de suas diferentes aplicações. 

O workshop é destinado a alunos de pós-graduação, técnicos de microscopia eletrônica e pesquisadores

Conteúdo programático

A programação final do workshop contempla aquisição e tratamento de imagens, difração de elétrons retroespalhados (EBSD), análise em pressão variável (LV e ESEM), preparação de amostras e, principalmente, aplicações de Espectroscopia de Raios X por Dispersão em Energia (EDS) em microscopia eletrônica de varredura. Confira a programação completa

Datas importantes

Abertura de inscrições  08/06/2026
Encerramento das inscrições  12/07/2026
Divulgação dos selecionados  A partir de 04/08/2026
IV SEM-FIB Workshop  19 a 23/10/2026

Informações gerais

  • O curso é presencial e gratuito, com vagas limitadas.
  • Não há subsídios para auxílio com acomodação ou transporte.
  • A organização fornecerá certificado de participação àqueles que obtiverem, no mínimo, 75% de presença. O documento inclui a carga horária total, e será oferecido digitalmente.

O almoço será oferecido gratuitamente no refeitório do CNPEM.

Critérios de prioridade/seleção:

As vagas serão distribuídas buscando a maior abrangência possível entre as cincos regiões do país, e priorizando os candidatos de acordo com a seguinte ordem

1) Técnicos em instalações abertas de microscopia eletrônica;

2) Estudantes de pós-graduação

3) Profissionais de ensino

4) Pesquisadores 

5) Alunos de graduação 

Como parte do processo seletivo, os candidatos devem submeter uma carta de interesse durante o preenchimento do formulário de inscrição

Essa carta deve descrever: por que desejam participar do evento; qual a experiência que já possuem com as técnicas que serão abordadas; e a importância dessa participação em sua carreira acadêmica ou profissional. 

A seleção será realizada com base no conteúdo da carta, e não serão considerados critérios de desempenho acadêmico no processo seletivo. 

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