O Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM) realizou entre os dias 1º e 5 de setembro de 2025 a terceira edição do SEM-FIB Workshop.

Destinado a pesquisadores, estudantes de pós-graduação, técnicos e profissionais do ensino e inovação, o evento tem por objetivo fornecer uma introdução teórico-prática em microscopia eletrônica de varredura (SEM/MEV), atuando principalmente na capacitação dos potenciais usuários das instalações abertas de microscopia eletrônica do Laboratório Nacional de Nanotecnologia (LNNano).

Esta edição do workshop abordou aspectos básicos dos equipamentos com foco na introdução das principais técnicas disponíveis, como aquisição de imagens, EDS, EBSD, análise em pressão variável (LV e ESEM) e preparação de amostras. Um breve conteúdo sobre FIB (Focused Ion Beam) e instrumentação para experimentos in situ também foi apresentado.

Com aulas expositivas em auditório e oficinas demonstrativas nos equipamentos do LNNano, os participantes puderam, ao final do evento, construir uma base fundamental para o entendimento das técnicas e de suas diferentes aplicações.